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华科智源大功率器件动态参数测试系统亮相中国电子展
  • 发布日期:2019-01-07      浏览次数:264
    • 2018年9月28日,为期三天的“深圳电子展暨”在深圳会展中心盛大开幕。

      本届展览以“信息化带动工业化,电子技术促进产业升级”为主题。被商务部确定为“2017年商务部引导支持展会”,是电子信息专业中被列入的展会。同期举办的还有亚洲电子展。对于所有的电子设备行业爱好者来说,这无疑是一场盛宴。

      华科智源此次展出的设备有“大功率IGBT动态参数测试系统”“半导体分立器件测试系统”“便携式IGBT测试系统”IGBT测试仪等。

      IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。此次参展的大功率动态参数测试系统是针对IGBT器件、MOSFET器件等的开关特性及内部续流二极管的反向恢复特性而推出的全自动测试系统。适用于电流小于4500A、集电极电压小于6000V、续流二极管正向电流小于4500A的IGBT器件的特性参数测试。可以满足客户的多方面需求。

      大功率器件动态参数测试系统作为此次展会上的明星产品,自然也受到了很多行业内关注者的围观,有很多客户在与我们工程师交谈中表示出强烈的购买意向。本届展会对于华科智源来说意义是深远的,相信对于所有对半导体器件测试有需求的厂商来说意义同是深远的。现场不管是与客户或是同行的交流都像是灵魂的碰撞。而一切就正好像本届展会的主题“信息化带动工业化,电子技术促进产业升级”一样,生动、和谐。

      此次展会圆满落幕,但我们与外界的技术交流仍在继续。再次祝愿所有关注中国电子行业发展的同胞们一切都好,也祝愿易恩电气可以为中国电力电子行业做出更多的贡献。

       

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